Axio Imager 2蔡司光學(xué)顯微鏡

   　　Axio Imager 2蔡司光學(xué)顯微鏡用于高級材料研究的顯微鏡系統(tǒng)

　　將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 確保在質(zhì)量檢驗和流程控制中提供精準(zhǔn)且可重復(fù)的結(jié)果。

　　Axio Imager 2 擁有出色的光學(xué)鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預(yù)設(shè)條件和可重復(fù)的結(jié)果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式模塊。

　　從四種不同的主機架中選擇您需要的系統(tǒng)，并借助專業(yè)解決方案擴展應(yīng)用：Particle Analyzer、關(guān)聯(lián)顯微系統(tǒng)或 LSM 700。

　　特點優(yōu)勢：

　　具有超高對比度和分辨率的出色光學(xué)系統(tǒng)

　　模塊化主機設(shè)計，利用一系列電動和編碼組件增強靈活度

　　穩(wěn)定的主機和無振動的工作環(huán)境能夠確保觀測結(jié)果的可重復(fù)性

　　使用激光共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對 Axio Imager 2 進行升級

　　在關(guān)聯(lián)顯微系統(tǒng)的工作和顆粒度分析中使用 Axio Imager 2

　　在質(zhì)量檢驗和流程控制中，自動化功能可確保重復(fù)檢測結(jié)果的精準(zhǔn)

　　觀察方式選擇：

　　研究和檢測不同材料。分析金屬結(jié)構(gòu)、復(fù)合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。

　　多種觀察方式可供選擇，以獲得更多豐富的信息。使用反射光，在明場、暗場、微分干涉(DIC)、圓微分干涉(C-DIC)、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光，在明場、暗場、微分干涉(DIC)、偏光或圓偏光下檢測樣品。

　　觀察方式管理器能確保 Axio Imager 2 的照明設(shè)置可復(fù)制。

　　出眾的表面應(yīng)用

　　Axio Imager.Z2m 或 Axio Imager.M2m 可以在觸摸屏上顯示關(guān)鍵操作功能，使用指尖控制所有電動組件。

　　其他控制按鈕依照人體工程學(xué)方式排列在調(diào)焦驅(qū)動裝置周邊，可通過觸覺輕易的區(qū)分各控制按鈕。

　　Axio Imager.D2m 有 5 個預(yù)編程按鈕，而 Axio Imager.Z2m 則有 10 個用戶自定義按鈕。