電子半導體圖像法顆粒度分析儀 顆粒計數

電子半導體圖像法顆粒度分析儀 顆粒計數-優勢：

測試軟件具有審計追蹤、權限管控、電子記錄、測試標準、計量驗證、報告模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報告輸出、清潔度分析等功能；

全面自動標準選擇、顆粒尺寸設定、顆粒計數，或按用戶設定范圍計數，自動顯示分析結果，并按照相關標準確定產品等級；

將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物；

軟件控制分析過程，手動對焦，手動光強（顆粒清潔度測試必須人為干預進行），自動掃描，自動攝入，自動分析；

數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動膜片掃描系統，無縫拼接，數字化顯微鏡分析系統；

R232接口數據傳輸方式將顆粒圖像傳輸到分析系統；

顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析；

引入3D遙感三維調控技術，快速定位，快速聚焦，體驗極速無卡頓測試。

顯示器及打印機輸出分析結果；

直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統計、自動標定等特點；

避免激光法的產品缺陷，擴展檢測范圍；

現實NAS、ISO等標準方法的認可；

提供行業*的“OIL17服務星”簽約式服務；

電子半導體圖像法顆粒度分析儀 顆粒計數-應用：

航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車制造、制冷、電子、半導體、工程機械、液壓系統等領域；

對各類固體粉末、各類液體中的固體顆粒（非連續相測試）。

執行標準：

0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率。

可根據客戶要求，植入相應“圖像法顆粒度”測試和評判標準。

技術參數：

產品型號：PLD-MPCS2.0

訂制要求：各類液體檢測要求；

測試范圍:  1μm-500μm

放大倍數：40X～l000X倍

zui大分辨：0.1μm

顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數字攝像頭(CCD)：500萬~1800萬像素

分析項目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等

自動分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

軟件運行環境：Windows 10

接口方式：RS232或USB方式

精 確 度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；

分 辨 率：>95%

售后服務：普洛帝中國服務中心/普研檢測。